La spectroscopie mesure l'interaction entre la matière et un rayonnement pour identifier ou doser sans séparation préalable. Chaque technique a son terrain : l'infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR) identifie les fonctions chimiques et les matériaux, l'UV-visible dose en solution, l'ICP-OES quantifie les éléments à l'état de traces, la fluorescence X (XRF) mesure le soufre, le chlore et le silicium dans les carburants et les huiles selon les normes ASTM et ISO. SRA Instruments distribue les spectromètres Agilent et les analyseurs XRF de XOS, et complète l'offre de couplages avec ses interfaces TGA.
FT-IR et accessoires
Un spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FT-IR) identifie un matériau, un polymère, un s...
ICP-OES
L'ICP-OES (spectrométrie d'émission optique à plasma induit) dose en une seule mesure des dizaines d...
Analyseurs XRF
La fluorescence X (XRF) dose le soufre, le chlore, le silicium et les métaux directement dans uncarb...
UV-Vis
La spectrophotométrie UV-visible dose une espèce en solution par l''absorption d''unrayonnement : co...